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8-25
國產X熒光光譜儀引起樣品誤差的原因：（1）樣品物理狀態(tài)不同，樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣；樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發(fā)、起泡、結晶及沉淀等。（2）樣品的組分分布不均勻樣品組分的偏析、礦物效應等。（3）樣品的組成不一致引起吸收、增強效應的差異造成的誤差（4）被測元素化學結合態(tài)的改變樣品氧化，引起元素百分組成的改變；輕元素化學價態(tài)不同時，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。（5）制樣操作在制樣過程中的稱量造成的誤差，稀釋比不一致，樣品熔融不*，樣品粉碎混合不均...
7-28
ROHS設備產品特點：1、無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。2、測量時間短，客戶可選擇測試時間：60-300秒。3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀大方。4、配備XY軸可移動平臺，方便樣品點選測試。5、點擊軟件電動自動開關樣品腔蓋，無需手動打開關閉，人性化操作！6、采用美國電制冷Si-pin探測器：提高分析的準確性，無需耗材。7、的超短光路設計，配套*的光管管控程序，更有效延長X光管壽命。良好...
7-24
X熒光光譜儀特點：1、無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。2、測量時間短，客戶可選擇測試時間：60-300秒。3、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀大方。4、配備XY軸可移動平臺，方便樣品點選測試。5、點擊軟件電動自動開關樣品腔蓋，無需手動打開關閉，人性化操作！6、采用美國電制冷Si-pin探測器：提高分析的準確性，無需耗材。7、的超短光路設計，配套*的光管管控程序，更有效延長X光管壽命。良好的散...
7-21
LC液相色譜儀由泵將儲液瓶中的溶劑吸入色譜系統(tǒng)，然后輸出，經流量與壓力測量之后，導入進樣器。被測物由進樣器注入，并隨流動相通過色譜柱，在柱上進行分離后進入檢測器，檢測信號由數(shù)據處理設備采集與處理，并記錄色譜圖。廢液流入廢液瓶。遇到復雜的混合物分離(極性范圍比較寬)還可用梯度控制器作梯度洗脫。這和氣相色譜的程序升溫類似，不同的是氣相色譜改變溫度，而LC液相色譜儀改變的是流動相極性，使樣品各組分在*條件下得以分離。LC液相色譜儀使用中常見的問題及注意事項1、過濾時有時會出現(xiàn)流動相...
7-13
產品名稱：X射線熒光光譜儀型號：EXF-180E功能：ROHS分析鹵素分析詳細說明一、應用領域EXF-180E是一款經濟、實用、操作簡便的X射線熒光光譜儀；對鉛（Pb）、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、溴(Br)、氯(Cl）)等元素有很好的檢測下限以及精度。綜合應用FP法、神經網絡法、經驗系數(shù)法、基本參數(shù)法分析軟件。可*RoHS/WEEE/EN71標準/ELV指令相關管控要求。精心設計的開放性工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。適用于：五金、接插件、電子，電氣，...
6-29
X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生發(fā)射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子...
6-27
涂鍍層測厚儀是無損檢測技術是一門理論上綜合性較強，又非常重視實踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學科。它涉及到材料的物理性質、產品設計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。涂鍍層測厚儀在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實現(xiàn)對各類材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣，便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進行成品質量檢測*的zui重要的工序。是產品達到標準的*手...
6-14
ROHS檢測分析儀：是由歐盟于2003年1月立法制定的一項強制性標準，主要用于規(guī)范電子電氣產品的材料及工藝標準，目的在于消除電子電氣產品中的鉛、六價鉻、多溴聯(lián)苯、汞、鎘、多溴聯(lián)苯醚等有害物質。2015年6月，歐盟*公報(OJ)發(fā)布RoHS2.0修訂指令(EU)2015/863，正式將DEHP、BBP、DBP、DIBP列入附錄II限制物質清單中，至此附錄II共有十項強制管控物質。X熒光光譜儀(XRF)是由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。其工作原理是：X射線管通過產生入射X射線...
